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Endommagement

Contact : Olivier UTEZA

Caractéristiques marquantes : Endommagement laser en régime impulsionnel ultracourt (fs). Banc de mesure pour le test de tenue au flux de composants optiques.

Depuis 2006, un banc d’essai et une méthode d’analyse permettant une métrologie précise et portable de l’endommagement (et/ou de l’ablation) par laser court et ultracourt sont opérationnels au laboratoire. Notre expertise est aujourd’hui centrée sur la mesure de l’endommagement laser en régime ultracourt (10 fs – 500 fs). Elle est fortement soutenue par les développements constants de l’analyse de l’interaction laser – matière dans ces conditions d’éclairement (voir les autres thématiques de l’opération).

D’un point de vue appliquée, nous proposons la mesure de seuils d’endommagement laser d’éléments optiques divers (miroirs large bande, réseaux, fenêtres, etc.) et de matériaux (diélectriques, semi-conducteurs, métaux). Cette prestation de services est à destination de la recherche publique et de l’industrie. Parmi les prestations effectuées, citons par exemple nos tests d’endommagement pour : CILEX-Apollon, LLE Rochester USA, RAL – UK, Thales-SESO, REOSC ou Amplitude Technologies.

L’extension de nos capacités de mesure à des environnements et géométries variés (air, vide, gaz de couverture, petit/grand faisceau) est en cours. Cela permettra de proposer des possibilités accrues de tests d’endommagement laser à la communauté scientifique et aussi de mesure et d’étude pour la compréhension de l’interaction laser – matière à durée d’impulsion ultracourte.


Quelques exemples de réalisations…

Illustration de l’endommagement. A) Banc d’essai @ 10 fs. Endommagement de cristaux amplificateurs Ti:Sa (B) et de réseaux de diffraction (C).


Pour en savoir plus…

1. CHIMIER B., UTEZA O., SANNER N., SENTIS M., ITINA T., LASSONDE P., LEGARE F., VIDAL F., KIEFFER J.C. – Damage and ablation thresholds of fused silica in femtosecond regime : relevant physical criteria and mechanisms –Phys. Rev. B. 84, 094104, 2011.

2. BUSSIERE B., UTEZA O., SANNER N., SENTIS M., RIBOULET G., VIGROUX L., COMMANDRE M., WAGNER F., NATOLI J.-Y, CHAMBARET J.P. - Bulk laser-induced damage threshold of Titanium doped Sapphire crystals – Applied Optics 51 (32), 7826-33, 2012.

3. PASQUIER C., BLANDIN P., CLADY R., SANNER N., SENTIS M., UTEZA O., LI YU, SHEN YAN LONG – Handling beam propagation in air for nearly 10-fs laser damage experiments – Optics Communications 355, 230–238, 2015.



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